ICT-Projekte werden in einer unsicheren Welt realisiert. Externe Faktoren – Märkte, Technologiewandel, Regulierung – können die Bewertungsgrundlagen eines Projekts fundamental verändern.
Vier externe Einfluss-Dimensionen
| Einfluss | Beispiele | Bewertungsanpassung |
|---|---|---|
| Marktrisiken | Kundennachfrage sinkt; Wettbewerber lanciert substitutives Angebot; Wirtschaftsabschwung reduziert Investitionsbudgets | Nutzen-Schätzung mit Markt-Downside-Szenario; Sensitivity-Analyse auf Hauptannahmen |
| Technologierisiken | Ausgewählte Technologie wird obsolet oder von Hersteller nicht mehr unterstützt; billigere Alternative entsteht während Projektlaufzeit | Technology-Readiness-Level bewerten; Technologie-Watch; Build vs. Buy regelmässig neu bewerten |
| Szenario-Analyse | Drei Szenarien: Best Case (günstige externe Bedingungen), Base Case (wahrscheinlichste Entwicklung), Worst Case (ungünstige Bedingungen) | Für alle drei Szenarien NPV/ROI berechnen; Entscheid auf Basis des Base Case mit bekannter Risikoexposition |
| Monte-Carlo-Simulation | Statistische Simulation: Tausende von Szenarien mit zufällig variierten Inputs berechnen; Ergebnis ist Wahrscheinlichkeitsverteilung des NPV | Probabilistische Aussagen: «80% Wahrscheinlichkeit positiver NPV»; realistischere Risikoeinschätzung |
Szenario-Analyse: Praktisches Vorgehen
1. Schlüsselantriebsfaktoren identifizieren: welche externen Faktoren haben den grössten Einfluss auf den Projektnutzen? 2. Für jeden Faktor drei Werte: optimistisch, wahrscheinlich, pessimistisch. 3. Szenarien kombinieren: Best Case = alle optimistisch, Worst Case = alle pessimistisch. 4. NPV für jedes Szenario berechnen. 5. Break-Even-Analyse: bei welchen Werten wird der Nutzen negativ? Das gibt Steuerungsparameter für das Projekt.
Fazit
Externe Unsicherheit ist kein Grund, keine Bewertung vorzunehmen – es ist ein Grund, Bewertungen mit expliziter Unsicherheit durchzuführen. Szenario-Analyse macht Unsicherheit manageable.
Weiterführend: Bias in der Bewertung | Umfeldfaktoren PPM
Quellen
- Hubbard, D.W. (2014). How to Measure Anything, 3. Auflage. Wiley.
